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Mit Mikroskopaufnahmen von Elektronikbauteilen auf Fehlersuche. Das Schadensbild wird bis hinunter zur mikroskopischen Gefügeebene der Werkstoffe in den Bauteilen in den Blick genommen. Foto: Daimler/auto-reporter.net
 Mit Mikroskopaufnahmen von Elektronikbauteilen auf Fehlersuche. Das Schadensbild wird bis hinunter zur mikroskopischen Gefügeebene der Werkstoffe in den Bauteilen in den Blick genommen. Foto: Daimler/auto-reporter.net
Mit Mikroskopaufnahmen von Elektronikbauteilen auf Fehlersuche. Das Schadensbild wird bis hinunter zur mikroskopischen Gefügeebene der Werkstoffe in den Bauteilen in den Blick genommen. Foto: Daimler/auto-reporter.net

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